Referências: |
1. Scanning electron microscopy and X ray microanalysis, J. I. Goldstein, D. E. Newbury, P.
Echlin, D. C. Joy, C. Fiori, E. Lifshin, Pnenum Press, Nova York, EUA, 1981.
2. Microscopia eletrônica de varredura e microanálise, A. M. Maliska, Apostila de aulas,
Universidade Federal de Santa Catarina, Florianópolis, Brasil. (disponível online:
http://www.materiais.ufsc.br/lcm), 2004.
3. ASM Handbook Volume 10: Materials Characterization, 9a. edição, Ed. R. E. Whan, ASM
International, Materials Park, EUA, 1986.
4. Elements of X-ray diffraction, B. D. Cullity, Addison-Wesley, USA, 1978. |